МЕТРОЛОГИЯ НА ПОЛУПРОВОДНИКОВИ И СИЛИКАТНИ МАТЕРИАЛИ
Вид на курса: изборен, редовно		Ниво на курса: магистър		Година: 1
Семестър: 1	Брой кредити: 2
Цел на курса: Целта на курса е да даде на студентите основни познания за ролята на метрологията и стандартизацията в научноизследователската и производствена дейност в областта на производството на полупроводникови и силикатни материали. Разгледани са различните величини, заползвани за охарактеризиране, изпитване и измерване на свойствата на полупроводникови и силикатни материали, както и основните принципи и апаратура за измерване на свойствата на тези материали.
Необходими условия: Лекционна зала, снабдена с щрайбпроектор (мултимедия) и лаборатория с необходимото оборудване за провеждане на упражнения.
Съдържание на курса: Лекционният материал (с хорариум 20 часа) е обобщен в 10 теми и 7 основни теми за упражнения (с хорариум 10 часа).
Препоръчителна литература: 1. Борисова М. Э., С. Н. Койков, Физика диэлектриков, Ленинград, изд. Ленингр. у-та, 1979 2. Глазов В. М., А. С. Охотин, Р. П. Боровикова, А. С. Пушкарский, Методы исследования термоэлектрических свойств полупроводников, Москва, Атомиздат, 1969 3. Павлов Л. П., Методы определения основных параметров полупроводниковых материалов, Высшая школа, Москва, 1975 4. Мосс Т., Оптические свойства полупроводников, Москва, изд. Иностр. литер., 1961 5. С. Гуцов, Технология на стъклото, Техника, София, 1964 6. С. Бъчваров и кол., Технология на керамичните изделия и материали, ИК Сарасвати, София, 2003 7. С. Бъчваров и кол., Ръководство за упражнения по технология на силикатите, Техника, София, 1978 8. Н. Неделчев, В. Вълков, Ръководство за лабораторни упражнения по технология на свързващите вещества, ХТМУ, София, 2002 9. Ю. Ситнадзе, Х. Сато, Фериты, Мир, Москва, 1964
Методи на преподаване: Лекции, беседи и дискусии, онагледявани с щрайбпроектор.			Методи на оценяване: Текуща оценка.
Кредити по видове дейност: Аудиторна заетост: 1,0 к. Извънаудиторна заетост: 1,0 к.